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NDK晶振ISO/IEC 17025認(rèn)證,干貨們請收好

文章出處：http://www.wukongman.cn/責(zé)任編輯：加科晶體電子人氣：-發(fā)表時間：2020-04-22 10:04【大中小】

日本電波NDK晶振公司對意識到環(huán)境保護(hù)對任何公司的管理都是必不可少的。這一認(rèn)識指導(dǎo)我們?nèi)∠褂孟某粞鯇游镔|(zhì)，促進(jìn)節(jié)能，減少資源消耗和我們積極開展的其他保護(hù)活動，以減少NDK業(yè)務(wù)對自然環(huán)境的影響。ISO 14001是環(huán)境管理體系的國際標(biāo)準(zhǔn)。這些系統(tǒng)對于減輕或抵消本組織活動、產(chǎn)品和服務(wù)對環(huán)境的影響和風(fēng)險至關(guān)重要。公司在日本及海外的生產(chǎn)基地均獲得了ISO 14001認(rèn)證。這反映了我們作為一個整體促進(jìn)環(huán)境管理的方式。

[日本]

認(rèn)證實驗室

適用認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)

初步認(rèn)證

證書

NDK質(zhì)量保證實驗室

ISO / IEC 17025：2017

2008年2月4日

ISO/ IEC 17025：2017

認(rèn)可范圍

M21 電氣測試

M21.5 環(huán)境測試

M21.5.1 冷測試

JISC60068-2-1：1995,IEC 60068-2-1：1990+A1：1993+A2：1994

測試Aa（6、8、10除外）

測試溫度：-40°C

M21.5.2 干熱測試

JISC60068-2-2：O191995，IEC 60068-2-2：1974 + A1：1993

測試Ba（6、8、10 除外）

測試溫度：85°C，100°C，125°C， 155℃°C，175°C

M21.5.3 溫度變化

JISC0025：1988

試驗Na（2.5、2.8和2.6.2除外的暴露時間10分鐘）

IEC 60068-2-14：1984

試驗Na（1.5、1.8和1.6.2除外的暴露時間10 min）

測試溫度：-40°C，85°C，100°C，125°C，155℃

M21.5.5 濕熱測試，穩(wěn)態(tài)

JISC60068-2-78：2004（6、8、10除外），

IEC 60068-2-78：2001（6、8、10除外）測試組合：40°C和93％RH

認(rèn)證工廠	認(rèn)證類型	初始認(rèn)證日期	注冊證明書/注冊范圍
NDK	ISO 9001：2015	1994年12月2日	ISO 9001：2015
			光學(xué)組件（DRP，QWP，棱鏡），晶振，晶體振蕩器，晶體濾波器，超聲波換能器，合成石英和合成器的設(shè)計，開發(fā)和制造。聲表面波器件的設(shè)計與開發(fā)。 NDK的總部和Sayama工廠遠(yuǎn)程支持在我們的子公司對IATF 16949進(jìn)行認(rèn)證。
	ISO 13485：2016	2014年3月12日	ISO 13485：2016
			診斷超聲探頭和超聲診斷成像系統(tǒng)的設(shè)計/開發(fā)和制造。
古河NDK	IATF16949：2016年	2005年2月10日	IATF 16949：2016	ISO 9001：2015
	ISO 9001：2015	2003年2月14日	IATF 16949：2016 晶體坯料，晶體單元和晶體振蕩器的設(shè)計和制造遠(yuǎn)程支持功能： Nihon Dempa Kogyo Co.，Ltd.總部/佐山工廠，NDK America，Inc.，NDK Europe Ltd.，NDK Europe有限公司弗里舍爾電子有限公司法國辦事處NDK意大利有限公司，NDK電子上海有限公司 ISO 9001：2015 水晶坯料，晶體單元和晶體振蕩器的制造關(guān)聯(lián)組織：古河NDK有限公司第二工廠
函館NDK	IATF 16949：2016	2006年2月3日	IATF 16949：2016	ISO 9001：2015
	ISO 9001：2015	2003年2月14日	IATF 16949：2016 晶體單元（音叉除外），晶體振蕩器和聲表面波器件的設(shè)計和制造。遠(yuǎn)程支持功能： Nihon Dempa Kogyo Co.，Ltd.總部/佐山工廠，NDK America，Inc.，NDK Europe Ltd.意大利辦事處，NDK Europe Ltd.法國辦事處，F(xiàn)RG Frischer Electronics Gmbh，NDK Electronics Shanghai Co 。，Ltd.，NDK Europe Ltd. ISO 9001：2015 制造晶體單元，晶體振蕩器和聲表面波器件
在NDK中	IATF 16949：2016	2007年2月2日	IATF 16949：2016	ISO 9001：2015
	ISO 9001：2015	2007年2月2日	IATF 16949：2016 晶體單元的設(shè)計和制造（引線安裝型除外）遠(yuǎn)程支持功能： Nihon Dempa Kogyo Co.，Ltd.總部/ NDK America，Inc.佐山工廠，NDK Europe Ltd.， NDK歐洲有限公司法國辦事處，NDK歐洲有限公司意大利辦事處，F(xiàn)rischer電子有限公司，NDK電子上海有限公司 ISO 9001：2015 晶體單元，晶體濾波器和晶體振蕩器的制造

[亞洲]

認(rèn)證工廠	認(rèn)證類型	初始認(rèn)證日期	注冊證明書/注冊范圍
ANC / NQM	IATF 16949：2016	2005年12月13日	IATF 16949：2016	NQM IATF 16949：2016	ISO 9001：2015
ANC / NQM	ISO 9001：2015	2002年11月20日	IATF 16949：2016 （ANC）晶體單元和單片晶體過濾器的設(shè)計與制造（NQM） AT切割晶體坯的設(shè)計與制造遠(yuǎn)程支持功能：（ANC）日本電產(chǎn)工業(yè)株式會社總部/佐山工廠，NDK美國公司，NDK意大利有限公司，NDK歐洲有限公司，NDK歐洲有限公司法國辦事處，NDK電子上海有限公司，F(xiàn)RG Frischer電子有限公司（NQM）亞洲NDK水晶有限公司。Nihon Dempa Kogyo Co.，Ltd. Sayama工廠 ISO 9001：2015 晶體單元和整體式晶體過濾器的設(shè)計與制造
蘇州 NDK	IATF 16949：2016	2005年11月4日	IATF 16949：2016		ISO 9001：2015
蘇州 NDK	ISO 9001：2015	2002年4月25日	IATF 16949：2016 晶體單元的設(shè)計和制造遠(yuǎn)程支持功能：日本NDK電子有限公司日本總部Dempa Kogyo Co.，Ltd.總部/佐山工廠 ISO 9001：2015 晶體單元的設(shè)計和制造，晶體振蕩器和光學(xué)元件

[參考]以前的認(rèn)證

認(rèn)證工廠	認(rèn)證類型	認(rèn)證日期	注意
佐山工廠NDK	ISO 9001：2000	2003年2月14日	所屬組織：總公司，Sa冢太陽工株式會社，千歲技術(shù)中心，關(guān)西營業(yè)所，中部營業(yè)所
	QS-9000	1998年4月10日	所屬組織：古河NDK，函館NDK
	ISO 9001：1994	1994年12月12日	關(guān)聯(lián)組織中包括：古河NDK，函館NDK和新瀉NDK
	ISO 13485：2003	2017年11月24日	更改了第三方審核機(jī)構(gòu)
古河NDK	ISO / TS 16949：2002	2005年2月10日
古河NDK	ISO 9001：2000	2003年2月14日
函館NDK	ISO / TS 16949：2002	2006年2月3日
函館NDK	ISO 9001：2000	2003年2月14日
NDK中國	ISO / TS 16949：2002	2007年2月2日
NDK中國	ISO 9001：2000	2007年2月2日
ANC / NQM	ISO / TS 16949：2002	2005年12月13日
	ISO 9001：2000	2002年11月20日
	QS-9000	1998年11月20日
	ISO 9002：1994	1994年11月9日	非國大
	ISO 9002：1994	1994年8月26日	NQM
蘇州 NDK	ISO / TS 16949：2002	2005年11月4日
	ISO 9001：2000	2002年4月25日
	QS-9000	1998年9月16日
	ISO 9002：1994	1996年12月1日
NDK美國	ISO 9001：2000	2005年7月28日
NDK美國	ISO 9001：2008	2011年4月22日