晶振損壞的特征和規(guī)律

　集成電路的損壞也有兩種：徹底損壞、熱穩(wěn)定性不良。徹底損壞時，可將其拆下，與正常同型號集成電路對比測其每一引腳對地的正、反向電阻，總能找到其中一只或幾只引腳阻值異常。對熱穩(wěn)定性差的，可以在設(shè)備工作時，用無水酒精冷卻被懷疑的集成電路，如果故障發(fā)生時間推遲或不再發(fā)生故障，即可判定。通常只能更換新集成電路來排除。

　一、電阻是電器設(shè)備中數(shù)量最多的元件，但不是損壞率最高的元件。電阻損壞以開路最常見，阻值變大較少見，阻值變小十分少見。常見的有碳膜電阻、金屬膜電阻、線繞電阻和保險電阻幾種。前兩種電阻應(yīng)用最廣，其損壞的“特點”

　1、是低阻值電阻損壞時往往是燒焦發(fā)黑，很容易發(fā)現(xiàn)，而高阻值電阻損壞時很少有痕跡。線繞電阻一般用作大電流限流，阻值不大。

　2、是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ以上)的損壞率較高，中間阻值(如幾百歐到幾十千歐)的極少損壞.